PXIE-4145数据采集卡采集器

PXIE-4145数据采集卡采集器

PXIE-4145数据采集卡采集器

NI PXIe-4145 （部件号： 782435-01） 具有 无线 IC 测试 PXI 解决 方案 系统 （RFIC） ， 它 具有 对 RFIC 小 工具 进行 基本 估算 所需 的 工具， 包括 ： 误差 矢量 模 块 （EVM） 、 框架 溢出 、 频率 平衡 以及 制定 自 定 调整 计划 （ AM、FM、PM、ASK、FSK、MSK、GMSK、PSK、QPSK、PAM、QAM）。

结合NI LabVIEW编程，这种安排可以帮助用户快速定制其框架，以执行特定的估计，以描绘其远程IC。

用户 可以 快速 开始 使用 由 NI 框架 组成 的 测试 程序， 以 定期 进行 基本 测量 来 表征 其 计划。

PXIe-4145 具有 RFIC 设计 的 模拟 办公® 功能， 可 为 RFIC 创建者 提供 一个 简单 易 懂 、 适应 性 强 且 精确 的 方案 条件 。

通过利用独一无二的统一数据模型™，Analog Office for RFIC Design 为RFIC设计人员提供了一种由互连和射频感知驱动的同步规划技术。Analog Office配置包基于开放式高频设计平台，可轻松集成RFIC设计技术，从框架到最终磁带输出。

PXIE-4145数据采集卡采集器

The NI PXIe-4145 (Part number: 782435-01) has the Wireless IC Test PXI Solution System (RFIC), which has the tools needed to make basic estimates of RFIC gadgets, including: Error vector modules (EVM), frame overflow, frequency balancing, and making custom adjustment plans (AM, FM, PM, ASK, FSK, MSK, GMSK, PSK, QPSK, PAM, QAM).

Combined with NI LabVIEW programming, this arrangement can help users quickly customize their framework to perform specific estimates to portray their remote ics.

Users can quickly start using the test program, which consists of the NI framework, to perform basic measurements on a regular basis to characterize their plans.

The PXIe-4145 features the RFIC designed Office simulation ® to provide RFIC creators with a simple, adaptable and accurate solution condition.

By leveraging the unique Unified Data Model ™, Analog Office for RFIC Design provides RFIC designers with a synchronous planning technology driven by interconnect and RF awareness. The Analog Office Configuration package is based on an open high-frequency design platform that easily integrates RFIC design technology from frame to final tape output.